1. 암석, 광물, 퇴적물, 코어 시료 등의 표면 형태, 입자 배열, 색상, 조직 특성을 고해상도 이미지로 촬영

1. 박편 시료를 단일니콜 및 직교니콜 조건에서 촬영하여 광물 조성, 입자 경계, 조직 구조, 변질 특성 등을 관찰

  ▣ 촬영 이미지 제공

1. 분석 목적에 따라 전체 시야 이미지, 확대 이미지, 대표 조직 이미지 등을 제공하여 보고서, 논문, 연구자료에 활용 가능

1. Field Emission Electron Probe Micro Analyzer (FE-EPMA)
2. JEOL (JXA-8530F)
   

1. 열전자총 대신에 Field Emmission(FE) 전자총을 사용하여 점분해 3.0nm의 분해능으로 이미지를 얻을 수 있어 고배율관찰에 폭넓게 이용되고 있는 전계방사형 주사전자현미경의 역할과 함께 전자빔이 시료에 조사될 때 전자빔과 반응하여 발생되는 여러 신호중 특성 X선을 검출하여 시료의 화학조성에 대한 정성 및 정량분석을 주목적으로 한 장비
2. 특성 X-Ray을 이용한 성분분석은 두 종류(EDS . WDS)의 분광계를 이용하는데, 이중 EDS는 특성 X-Ray의 에너지값으로 분류하여 빠른 시간내에 구성성분의 종류와 함량을 분석할 수 있으며, WDS는 특성 X-Ray의 파장(Wavelength)으로 분류하여 성분에 대한 보다 정확한 정성 및 정량 분석이 가능
3. 특히 WDS 분석시 표준시료를 활용하여 미지시료보다 정확한 함량을 분석할 수 있고 이는 비파괴적 정량분석이라는 장점을 가짐​
   

1. 각종재료(세라믹.금속.반도체.전자재료등)의 정성 및 정량분석
2. 금속등 각종 재료의 국소부위 정성 및 정량분석
3. Carbon등 경원소와 EDS분석으로 잘 분리되지 않는 원소의 정성 및 정량분석
4. 금속 접합부, 금속 표면처리에 따른 각 원소의 확산 및 분포정도 분석
5. 시료 표면부의 각 원소에 대한 면 분석 및 선 분석
6. 기타 전처리 작업과 WDS분석이 가능한 미지의 시료에 대한 정성 및 정량분석
   

1. 운석 및 광물등의 감정
2. 암석형성의 지온 및 지압에 대한 연구
3. 광물학에서의 광물의 화학조성 및 정량분석과 정량분석을 통한 누대구조. 용리구조. 불균일성 등의 분석
4. 암석학 분야, 광상학 분야, 보석학 분야