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암석 전함량 분석
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광물 조성 (XRD 분석)
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원소 함량 (XRF 분석)
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 암석 전함량 분석
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  ▣ 전함량 분석
  1. 암석, 광물, 토양 시료를 분쇄 및 분말화한 후 산 전처리를 통해 시료를 액상화하여 전체 원소 함량을 정밀 분석
  ▣ 시료 전처리
  1. 시료 특성과 분석 목적에 따라 분쇄, 분말화, 산분해, 용액화 등 전처리 과정을 수행하여 분석에 적합한 상태로 준비
  ▣ 분석 항목
  1. 주원소, 미량원소, 희토류원소 함량을 분석하여 시료의 지화학적 조성, 원소 분포 특성, 기원 해석에 활용
  ▣ 정량 분석 결과 제공
  1. 산 전처리 후 분석 결과에 따라 원소별 함량 데이터를 제공하고 연구 목적에 맞는 결과 정리 지원


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 광물 조성 분석
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  ▣ 기기 및 장비모델명
  1. ​X-Ray Diffractometer (XRD)
  2. Rigaku (UltimaIV)
  ▣ 원리 및 특징
  1. 분석 시료의 표면에 특성 X-Ray을 입사시키면 Bragg법칙에 의해 특성 X-Ray빔이 회절되고 회절된 X-Ray 빔의 각도 및 세기를 이용하여 시료의 결정상을 분석
  ▣ 분석 항목
  1. 결정성 분말, 박막시료의 정성분석 및 결정구조 분석
  2. 결정성 화합물의 결정크기, 결합형태, 배향성 분석
  3. 결정성 화합물의 온도변화에 따른 결정상(phase) 및 구조변화 측정
  ▣ 응용 분야
  1. 재료/소재/금속 분석
  2. 지질시료 조성 분석(암석, 광물, 지하수 등)
  3. 분말, bulk 등 시료의 결정 구조 분석
  4. 정밀한 격자상수 측정
  5. 결정성 측정
  6. 다상재료의 정량분석지원
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 원소 함량 분석
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  ▣ 기기 및 장비모델명
  1. X-Ray Fluorescence Spectrometer (XRF)
  2. Rigaku (ZSX-PrimusIV)
  ▣ 원리 및 특징
  1. X선 관내의 양극과 음극에 고전압을 가하여 발생시킨 열전자를 양극판에 충돌시켜 발생하는 1차 X선을 시료에 조사하여 시료에 포함된 원소에 따라 고유한 특성을 갖는 2차 X선(형광 X선)의 크기로 물질의 성분을 분석하며 형광 X선의 양에 따라 물질의 함량을 측정​
  ▣ 분석 항목
  1. 정성분석 : 시료에 함유되어있는 원소의 종류와 그 원소의 S/N비 (S/N = Signal to Noise)
  2. 정량분석 : SiO2, Al2O3, Fe2O3, CaO, MgO, K2O, Na2O, TiO2, MnO, P2O5 및 Ignition loss의 wt.% 값
  ▣ 응용 분야
  1. 금속과 합금 층의 비파괴 도금두께 측정 및 합금비 분석
  2. 일반 금속, 무기물분석
  3. 금속, 보석류, 유물의 비파괴 성분 분석
  4. RoHS, ELV 관련 각종전자제품, 자동차, 원자재 등의 금속, 플라스틱, 고무, 섬유, 페인트, 종이, 포장재중의 유해중금속 분석 (납, 카드늄, 수은, 브롬, 크롬)
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