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‌박편제작 및 모달 분석
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‌광물 조성 (XRD 분석)
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‌원소 함량 (XRF 분석)
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‌광물 구조 (SEM-EDS 분석)
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‌광물 성분 (EPMA 분석)
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 박편제작 및 모달분석
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  ▣ 박편 제작
  1. 암석이나 광물에 빛을 투과 또는 반사시켜 편광현미경으로 관찰할 수 있도록 가공한 약 30 μm(0.03 mm) 두께의 얇은 슬라이드 글라스(slide glass)에 붙혀 제작​
  ▣ 모달 분석
  1. 현미경하에서 격자를 짜서 각 광물이 몇 눈금을 차지하는지 계수기를 이용하여 실제로 측정하여 실제 광물들의 부피비를 계산
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 광물 조성 분석
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  ▣ 기기 및 장비모델명
  1. ​X-Ray Diffractometer (XRD)
  2. Rigaku (UltimaIV)
  ▣ 원리 및 특징
  1. 분석 시료의 표면에 특성 X-Ray을 입사시키면 Bragg법칙에 의해 특성 X-Ray빔이 회절되고 회절된 X-Ray 빔의 각도 및 세기를 이용하여 시료의 결정상을 분석
  ▣ 분석 항목
  1. 결정성 분말, 박막시료의 정성분석 및 결정구조 분석
  2. 결정성 화합물의 결정크기, 결합형태, 배향성 분석
  3. 결정성 화합물의 온도변화에 따른 결정상(phase) 및 구조변화 측정
  ▣ 응용 분야
  1. 재료/소재/금속 분석
  2. 지질시료 조성 분석(암석, 광물, 지하수 등)
  3. 분말, bulk 등 시료의 결정 구조 분석
  4. 정밀한 격자상수 측정
  5. 결정성 측정
  6. 다상재료의 정량분석지원
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 원소 함량 분석
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  ▣ 기기 및 장비모델명
  1. X-Ray Fluorescence Spectrometer (XRF)
  2. Rigaku (ZSX-PrimusIV)
  ▣ 원리 및 특징
  1. X선 관내의 양극과 음극에 고전압을 가하여 발생시킨 열전자를 양극판에 충돌시켜 발생하는 1차 X선을 시료에 조사하여 시료에 포함된 원소에 따라 고유한 특성을 갖는 2차 X선(형광 X선)의 크기로 물질의 성분을 분석하며 형광 X선의 양에 따라 물질의 함량을 측정​
  ▣ 분석 항목
  1. 정성분석 : 시료에 함유되어있는 원소의 종류와 그 원소의 S/N비 (S/N = Signal to Noise)
  2. 정량분석 : SiO2, Al2O3, Fe2O3, CaO, MgO, K2O, Na2O, TiO2, MnO, P2O5 및 Ignition loss의 wt.% 값
  ▣ 응용 분야
  1. 금속과 합금 층의 비파괴 도금두께 측정 및 합금비 분석
  2. 일반 금속, 무기물분석
  3. 금속, 보석류, 유물의 비파괴 성분 분석
  4. RoHS, ELV 관련 각종전자제품, 자동차, 원자재 등의 금속, 플라스틱, 고무, 섬유, 페인트, 종이, 포장재중의 유해중금속 분석 (납, 카드늄, 수은, 브롬, 크롬)
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 광물 구조 분석
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  ▣ 기기 및 장비모델명
  1. Field Emission Scanning Electron Microscope-Schottky type (FE-SEM-EDS)
  2. JEOL (JSM-IT800SHL)​
  ▣ 원리 및 특징
  1. 진공 하에서 고전압을 필라멘트에 인가하면 열 전자빔이 방출되어지고, 이 열전자빔이 전도성을 가진 시료표면에 입사되면 전자빔의 대부분은 열 발생으로 잃고, 나머지 전자는 시료의 구성 원자를 여기 또는 전리시키고, 일부는 산란되어 시료에서 밖으로 나오게 됨
  2. 이때 여러 가지 정보를 가진 신호를 방출하게 되는데 이들 신호 중 2차전자 및 후방산란전자를 포집하여 광증폭기를 거쳐 모니터에 이미지를 나타냄
  3. EDS가 장착되어 특성X선의 에너지 값을 분류하여 시료의 화학조성에 대한 정성 및 정량분석이 가능​
  ▣ 분석 항목
  1. 고분자의 형태와 크기, 표면형상 관찰(필름, 섬유 등)
  2. 금속 및 세라믹의 표면관찰 및 성분분석, 결정분포 촬영
  3. 반도체 기판위에 증착시킨 박막 두께 관찰
  4. 나노 수준 미세구조의 표면 관찰(CNT 및 SNT와 같은 분말)
  ▣ 응용 분야
  1. 금속재료분야
  2. 지질시료조성분석(암석, 광물, 지하수 등)
  3. 화학분야
  4. 바이오 및 재료분야의 구조분석
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 광물 성분 분석
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  ▣ 기기 및 장비모델명
  1. Field Emission Electron Probe Micro Analyzer (FE-EPMA)
  2. JEOL (JXA-8530F)
  ▣ 원리 및 특징
  1. 열전자총 대신에 Field Emmission(FE) 전자총을 사용하여 점분해 3.0nm의 분해능으로 이미지를 얻을 수 있어 고배율관찰에 폭넓게 이용되고 있는 전계방사형 주사전자현미경의 역할과 함께 전자빔이 시료에 조사될 때 전자빔과 반응하여 발생되는 여러 신호중 특성 X선을 검출하여 시료의 화학조성에 대한 정성 및 정량분석을 주목적으로 한 장비
  2. 특성 X-Ray을 이용한 성분분석은 두 종류(EDS . WDS)의 분광계를 이용하는데, 이중 EDS는 특성 X-Ray의 에너지값으로 분류하여 빠른 시간내에 구성성분의 종류와 함량을 분석할 수 있으며, WDS는 특성 X-Ray의 파장(Wavelength)으로 분류하여 성분에 대한 보다 정확한 정성 및 정량 분석이 가능
  3. 특히 WDS 분석시 표준시료를 활용하여 미지시료보다 정확한 함량을 분석할 수 있고 이는 비파괴적 정량분석이라는 장점을 가짐​
  ▣ 분석 항목
  1. 각종재료(세라믹.금속.반도체.전자재료등)의 정성 및 정량분석
  2. 금속등 각종 재료의 국소부위 정성 및 정량분석
  3. Carbon등 경원소와 EDS분석으로 잘 분리되지 않는 원소의 정성 및 정량분석
  4. 금속 접합부, 금속 표면처리에 따른 각 원소의 확산 및 분포정도 분석
  5. 시료 표면부의 각 원소에 대한 면 분석 및 선 분석
  6. 기타 전처리 작업과 WDS분석이 가능한 미지의 시료에 대한 정성 및 정량분석
  ▣ 응용 분야
  1. 운석 및 광물등의 감정
  2. 암석형성의 지온 및 지압에 대한 연구
  3. 광물학에서의 광물의 화학조성 및 정량분석과 정량분석을 통한 누대구조. 용리구조. 불균일성 등의 분석
  4. 암석학 분야, 광상학 분야, 보석학 분야
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